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測(cè)量?jī)x器的帶寬應(yīng)具有一定的寬度以保證通過(guò)儀器探測(cè)元件的輻射能量充分地處于探測(cè)元件的動(dòng)態(tài)范圍之內(nèi)。目前大多數(shù)測(cè)量光譜反射比的儀器帶寬為10nm或20nm，僅能測(cè)得可見(jiàn)光譜范圍內(nèi)間隔為10nm或20nm的光譜反射比值。通常測(cè)量結(jié)果為測(cè)量值尺不同于真實(shí)值，從而造成帶寬誤差。
理論上，帶寬誤差會(huì)隨著測(cè)量帶寬的變窄而減小，但是在儀器設(shè)計(jì)時(shí)會(huì)產(chǎn)生新的問(wèn)題，即帶寬變窄導(dǎo)致探測(cè)元件所接受的光能量不足，從而影響測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。現(xiàn)有技術(shù)針對(duì)帶寬誤差的校正，采用的方法是將帶寬校正嵌入到三刺激值計(jì)算加權(quán)表中從而得到精確的色度數(shù)據(jù)，而不能獨(dú)立地對(duì)光譜數(shù)據(jù)本身進(jìn)行校正。因此使用加權(quán)表無(wú)法獲得精確的光譜數(shù)據(jù)，有必要針對(duì)光譜數(shù)據(jù)本身采用帶寬誤差校正公式進(jìn)行校正。
